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    • MProbe系列膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)
      MProbe系列膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)
      膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中,比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层,触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
      型号:MProbe系列    厂商性质:代理商
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